分享:醫(yī)用TC4ELI鈦合金板材缺陷分析
摘 要:某醫(yī)用 TC4ELI鈦合金板材在進(jìn)行低倍檢查時(shí)發(fā)現(xiàn)其存在貫穿的亮帶缺陷,通過金相 檢驗(yàn)、掃描電鏡分析、能譜分析和硬度測試,對缺陷種類和形成原因進(jìn)行了分析.結(jié)果表明:該缺陷 為富鈦+間隙元素偏析缺陷,是由鈦合金鑄錠生產(chǎn)過程中海綿鈦粒度不均勻、中間合金混料分布不 均勻?qū)е碌?建議通過控制原料和熔煉工藝來減少或消除該缺陷.
關(guān)鍵詞:醫(yī)用 TC4ELI鈦合金;亮帶;偏析缺陷;間隙元素偏析
中圖分類號(hào):TG146.2 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:B 文章編號(hào):1001G4012(2019)11G0812G03
TC4ELI鈦合金以其生物相容性良好、彈性模 量低、密度低、防腐性能好、無毒、屈服強(qiáng)度高、疲勞 壽命長、室溫下塑性較大、易成形等優(yōu)點(diǎn)而成為醫(yī)用 外科植入物的理想材料[1G2].醫(yī)用 TC4ELI鈦合金 板材主要用于顱骨修復(fù)、接骨等方面,這對其強(qiáng)度、 疲 勞 壽 命、塑 性 等 有 更 高 的 要 求. 根 據(jù) GB/T 13810-2017«外科植入物用鈦及鈦合金加工材»,在 植入物產(chǎn)品所用鈦合金材料的低倍組織上若發(fā)現(xiàn)偏 析、金屬或非金屬夾雜物及其他目視可見的冶金缺 陷時(shí),判該批產(chǎn)品不合格.偏析是鈦合金材料微區(qū) 成分不均勻在組織上的顯現(xiàn).醫(yī)用 TC4ELI板作為 α+β型兩相鈦合金,如果其微區(qū)成分不均勻,將會(huì) 引起宏觀及顯微組織的異常,從而導(dǎo)致異常區(qū)域與 正常區(qū)域的硬度存在顯著的差異性,該差異性會(huì)導(dǎo) 致鈦合金材料整體性能不均勻,進(jìn)而降低材料強(qiáng)度、 疲勞壽命和塑性,最終導(dǎo)致材料早期失效[3G10].
某醫(yī)用 TC4ELI鈦合金板材在進(jìn)行低倍觀察時(shí) 發(fā)現(xiàn)一條寬度約5mm 的貫穿異常帶狀區(qū)域,截取 其中一部分進(jìn)行低倍觀察時(shí)發(fā)現(xiàn)該帶狀區(qū)域?yàn)榱? 帶,如圖1所示.為準(zhǔn)確判定缺陷類型,查明缺陷產(chǎn) 生的原因,筆者對其進(jìn)行了檢驗(yàn)和分析.
1 理化檢驗(yàn)
1.1 金相檢驗(yàn)
使用 Observer.AIM 型 ZEISS 金 相 顯 微 鏡 對 TC4ELI鈦合金板材的亮帶區(qū)和正常區(qū)進(jìn)行金相檢 驗(yàn),由圖2可見,亮帶區(qū)為單相等軸α組織,呈現(xiàn)出 偏析類組織特征,而正常區(qū)為典型的 TC4ELI鈦合 金α+β兩相區(qū)加工的組織,所有原始β晶界充分破 碎,由此可以確定亮帶區(qū)為偏析缺陷.
1.2 掃描電鏡分析
使用JSMG6700型冷場發(fā)射掃描電鏡(SEM)分 別對 TC4ELI鈦合金板材的亮帶區(qū)和正常區(qū)進(jìn)行形 貌分析.由圖3可見,亮帶區(qū)的單相等軸組織更清 晰,正常區(qū)呈現(xiàn)出α+β兩相區(qū)加工組織的特征,這 與金相檢驗(yàn)的結(jié)果一致,進(jìn)一步確定亮帶區(qū)為偏析 缺陷.
1.3 能譜分析
使用 掃 描 電 鏡 附 帶 的 能 譜 儀 (EDS)分 別 對 TC4ELI鈦合金板材的亮帶區(qū)和正常區(qū)進(jìn)行微區(qū)成 分分析,分析結(jié)果如表1所示.可見正常區(qū)除釩含 量比標(biāo)準(zhǔn)值稍高之外,其他元素含量均符合 GB/T 3620.1-2016«鈦及鈦合金牌號(hào)和化學(xué)成分»的要 求;亮帶區(qū)的鈦、鋁和釩含量均不在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi),出 現(xiàn)了明顯的富鈦、貧鋁及貧釩的情況,且氧元素的含 量為標(biāo)準(zhǔn)范圍的上限值,由此判斷該TC4ELI鈦合金板材存在富鈦型偏析缺陷.
1.4 硬度測試
鈦合金的偏析按偏析部位與正常區(qū)硬度的高、 低差別,可分為硬偏析(偏析部位硬度高于正常區(qū)硬 度,又稱脆性偏析)與軟偏析(偏析部位硬度低于正 常區(qū)硬度,又稱非脆性偏析)兩類.分別對 TC4ELI 鈦合金板材的亮帶區(qū)和正常區(qū)進(jìn)行顯微維氏硬度測 試,測得結(jié)果分別為383HV 和327HV.可見亮帶 區(qū)的硬度明顯比正常區(qū)的要高,亮帶區(qū)的偏析類型 為脆性偏析[11].
2 分析與討論
TC4ELI鈦合金板材的亮帶區(qū)為偏析缺陷,該 缺陷是由于中間合金顆粒沒有完全合金化導(dǎo)致的, 是富鈦型偏析,但又不是常見的富鈦偏析,因?yàn)楦烩? 型 偏 析 區(qū) 域 的 硬 度 應(yīng) 該 比 正 常 區(qū) 的 要 低[12],而 TC4ELI鈦合金板材的偏析缺陷區(qū)(亮帶區(qū))的硬度 比正常區(qū)的要高,這符合間隙元素偏析的特征.間隙元素特指氧、碳、氮等元素.偏析缺陷區(qū)氧元素含 量偏高的現(xiàn)象驗(yàn)證了這個(gè)結(jié)果.間隙元素的富集會(huì) 使鈦合金的β相轉(zhuǎn)變溫度升高、α相硬度升高、材料 變脆.綜上,TC4ELI鈦合金板材偏析缺陷的類型 是富鈦+間隙元素偏析.
該偏析缺陷的成因主要與鈦合金的熔煉工藝有 關(guān),偏析缺陷在鑄錠生產(chǎn)中就已形成.目前我國鈦 合金生產(chǎn)企業(yè)普遍采用3次真空熔煉自耗電弧爐熔 煉法,電極制備過程中操作不當(dāng)易引發(fā)金屬污染或 形成難熔的氧化物和氮化物,而電流、電壓選擇不當(dāng) 會(huì)引發(fā)熔煉過程中熔區(qū)無法實(shí)現(xiàn)熱平衡,還會(huì)引起 熔池深度的變化,從而導(dǎo)致海綿鈦粒度不均勻、中間 合金混料分布不均勻,這都會(huì)引起材料局部區(qū)域合 金元素的富集與貧乏,導(dǎo)致該區(qū)域的相變點(diǎn)偏離,而 在后續(xù)的熱加工過程中,就逐漸演變?yōu)楫惓=M織,形 成偏析缺陷[12G18].
3 結(jié)論及建議
TC4ELI鈦合金板材存在富鈦+間隙元素偏析 缺陷,該缺陷是由于鈦合金鑄錠生產(chǎn)過程中海綿鈦 粒度不均勻、中間合金混料分布不均勻?qū)е碌?
建議通過加強(qiáng)對原料和混料的控制,以及電極 制備過程和熔煉過程中電壓和電流的選擇來減少或 消除此類缺陷.
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<文章來源 >材料與測試網(wǎng) > 期刊論文 > 理化檢驗(yàn)-物理分冊 > 55卷 > 11期 (pp:812-814)>