- [檢測百科]分享:異種金屬偶接在高溫高酸性環(huán)境中的電偶腐蝕行為2021年07月07日 14:27
- 模擬150℃,H2S分壓1.0MPa,CO2 分壓1.5MPa,Cl- 質(zhì)量濃度200000mg/L的高溫高酸性腐蝕環(huán)境,采用高溫高壓電化學(xué)測試技術(shù)和浸泡腐蝕試驗,研究了鎳基合金718分別與低合金鋼35CrMo、20CrMnTi和鋁合金2A12偶接后的電偶腐蝕行為,并利用掃描電子顯微鏡(SEM)與X射線能譜儀(EDS)對腐蝕試樣的表面形貌及腐蝕 產(chǎn)物成分進(jìn)行分析。
- 閱讀(25) 標(biāo)簽:金屬材料檢測|腐蝕試驗
- [檢測百科]分享:鎂對新型合金鍍層金屬液抗高溫氧化性能的影響2021年06月30日 15:09
- 通過對新型合金鍍層金屬液(以下稱合金液)氧化試驗后宏觀狀態(tài)、微觀形貌觀察,結(jié)合X射線衍射(XRD)及能譜分析,研究分析了鎂對該合金液氧化行為的影響。結(jié)果表明:鎂對該合金液的氧化行為影響顯著,鋁含量一定時,隨著鎂含量增加,合金液的抗高溫氧化性能明顯變差,且氧化層呈規(guī)律性增加,超過一定含量后嚴(yán)重影響鍍層表面質(zhì)量。
- 閱讀(6) 標(biāo)簽:金屬材料檢測|腐蝕試驗
- [檢測百科]分享:X射線熒光光譜法測定鋁硅銅合金中主次元素含量2021年06月23日 15:12
- 鋁硅銅合金是當(dāng)今公認(rèn)的一種高強度壓鑄鋁合金,在國外已廣泛應(yīng)用于家用電器、汽車、摩托車等零件,在我國應(yīng)用起步較晚,還有許多特性有待研究和開發(fā)。鋁硅銅合金中主次元素含量的高低將直接或間接地影響材料的性能與用途,尤其是硅、鉛、錫、鋯等元素,因此鋁硅銅合金中主次含量元素的測定非常重要。目前測定鋁硅銅合金中主次元素含量的常用方法有化學(xué)法[1]、原子吸收光譜法[2]、發(fā)射光譜法[3]、光電光譜法[4]和電感耦合等離子體原子吸收光譜法(ICPAES)[5]等,而這些方法普遍存在一些缺陷,如僅單元素分析、前處理較復(fù)雜、耗時較長、對環(huán)境造成污染等
- 閱讀(20) 標(biāo)簽:金屬材料檢測|化學(xué)分析
- [檢測百科]分享:高速電弧噴涂FeGCrGBGCGAl涂層的 組織結(jié)構(gòu)及其高溫腐蝕行為2021年06月23日 13:57
- 用高速電弧噴涂技術(shù)在20G鋼基體上制備了FeGCrGBGCGAl涂層.采用光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、能譜儀、X射線衍射儀、萬能材料試驗機以及硬度計研究了涂層的微觀組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能;然后在650℃條件下進(jìn)行了涂層的高溫腐蝕試驗,并與20G鋼進(jìn)行了對比,研究了涂層的耐高溫腐蝕機理。
- 閱讀(14) 標(biāo)簽:涂鍍層|腐蝕試驗
- [檢測百科]分享:表面改性納米SrTiO3 粉體的制備2021年06月17日 16:36
- 以硝酸鍶、鈦酸四丁酯和氫氧化鉀為原料,采用水熱法制備了 SPAN80表面活性劑改性納米SrTiO3 粉體,利用 X射線衍射儀、透射電鏡、能譜儀、激光粒度儀等分析了粉體的物相組成、形貌和粒徑.結(jié)果表明:經(jīng)10%(體積分?jǐn)?shù))SPAN80表面活性劑改性后,SrTiO3 粉體顆粒呈球形,平均粒徑小于未改性粉體的,且粒度分布較窄;表面活性劑對粉體的物相組成無影響;當(dāng)SPAN80表面活性劑的體積分?jǐn)?shù)大于10%時,SrTiO3 粉體的粒徑又呈增大的變化趨勢.
- 閱讀(12) 標(biāo)簽:化學(xué)分析|無損檢測|牌號鑒定
- [檢測百科]分享:焊后熱處理對20G鋼焊接接頭殘余應(yīng)力的影響2021年06月08日 11:18
- 陳樹明1,2,王海燕1,2,姚兆鳳2,高世一3,房衛(wèi)萍3 (內(nèi)蒙古科技大學(xué)1.白云鄂博礦多金屬資源綜合利用重點實驗室;2.材料與冶金學(xué)院,包頭 014010; 3.廣東省工業(yè)技術(shù)研究院,廣東省現(xiàn)代焊接技術(shù)重點實驗室,廣州 510650) 摘 要:采用 X射線應(yīng)力分析儀和電子背散射衍射儀(EBSD)等分別研究了熱處理前后20G 鋼焊接接頭的表面殘余應(yīng)力和微區(qū)殘余應(yīng)力.結(jié)果表明:熱處理前后焊接接頭的表面殘余應(yīng)力均以焊縫為中心呈對稱分布,
- 閱讀(249) 標(biāo)簽:失效分析|焊材焊縫
- [檢測百科]分享:對新型合金鍍層金屬液抗高溫氧化性能的影響2021年06月07日 13:09
- 通過對新型合金鍍層金屬液(以下稱合金液)氧化試驗后宏觀狀態(tài)、微觀形貌觀察,結(jié)合X射線衍射(XRD)及能譜分析,研究分析了鎂對該合金液氧化行為的影響。結(jié)果表明:鎂對該合金液的氧化行為影響顯著,鋁含量一定時,隨著鎂含量增加,合金液的抗高溫氧化性能明顯變差,且氧化層呈規(guī)律性增加,超過一定含量后嚴(yán)重影響鍍層表面質(zhì)量。
- 閱讀(6) 標(biāo)簽:涂鍍層|腐蝕試驗|金屬材料檢測
- [檢測百科]分享:焊后熱處理對20G鋼焊接接頭殘余應(yīng)力的影響2021年05月26日 14:40
- 采用X射線應(yīng)力分析儀和電子背散射衍射儀(EBSD)等分別研究了熱處理前后20G鋼焊接接頭的表面殘余應(yīng)力和微區(qū)殘余應(yīng)力.結(jié)果表明:熱處理前后焊接接頭的表面殘余應(yīng)力均以焊縫為中心呈對稱分布,且隨距焊縫中心距離的增大而下降,熱處理后的平均殘余應(yīng)力比熱處理前的降低了7.21%;熱處理后焊接接頭焊縫區(qū)、熱影響區(qū)和母材區(qū)的晶粒發(fā)生再結(jié)晶轉(zhuǎn)變,晶粒得到細(xì)化;再結(jié)晶導(dǎo)致局域取向錯配角的平均值減小,微觀殘余應(yīng)力得到釋放,且分布更為均勻,但焊縫區(qū)的微觀殘余應(yīng)力依然較高.
- 閱讀(9) 標(biāo)簽:化學(xué)分析|腐蝕試驗
- [檢測百科]分享:X射線熒光光譜法測定鋁硅銅合金中主次元素含量2021年05月20日 15:51
- 鋁硅銅合金主次元素含量的高低將直接或間接地影響材料的性能與用途,尤其是硅、鉛、錫、鋯等元素因此鋁硅銅合金中主次含量元素的測定非常重要。
- 閱讀(11) 標(biāo)簽:化學(xué)分析|無損檢測
- [檢測百科]分享:熔融制樣-X射線熒光光譜法測定鋼水中間包覆蓋劑的5種組分2021年05月17日 13:13
- X射線熒光光譜法(XRF)是一種重要的分析手段,具有快速、簡單、準(zhǔn)確、便捷的特點。可同時針對各種元素進(jìn)行測定。測定的范圍寬,精度高等有點,廣泛應(yīng)用材料檢測領(lǐng)域,本次主要討論采用熔融制樣-XRF測定中間包覆蓋劑中AI_2 O_3 〖,SiO〗_2,MgO和Fe_2 O_3。等5種組分,利用合成的校準(zhǔn)樣品制作校準(zhǔn)曲線,從而降低檢測成本,縮短檢測周期。
- 閱讀(13) 標(biāo)簽:化學(xué)分析
- [檢測百科]分享:X射線衍射法測定圓棒表面殘余應(yīng)力的影響因素2021年05月17日 11:41
- 利用X射線衍射法測定圓棒表面殘余應(yīng)力,討論檢測方法、設(shè)備、試樣狀態(tài)等影響因素,可能對檢測結(jié)果造成影響。試驗結(jié)果表明,在測試表面殘余引流的過程之中,應(yīng)該保證設(shè)備狀態(tài)的穩(wěn)定性,隨后根據(jù)材料的類型和晶體結(jié)構(gòu)選擇檢測參數(shù),考慮試樣的割取和保護(hù)對檢測結(jié)果的影響。對于組織結(jié)構(gòu)復(fù)雜的材料可以增加擺動角度提升檢測精度。
- 閱讀(11) 標(biāo)簽:無損檢測|力學(xué)試驗
- [公告聲明]X射線移動探傷項目 竣工環(huán)境保護(hù)驗收監(jiān)測公示2021年04月12日 09:20
- 關(guān)于浙江國檢檢測技術(shù)股份有限公司 X射線移動探傷檢測項目環(huán)境保護(hù)竣工公示(詳情請見附件)
- 閱讀(68) 標(biāo)簽:公司動態(tài)
- [檢測百科]金屬材質(zhì)分類特性及檢測方法分析2020年10月13日 14:38
- 目前常用的方法有,原子光譜分析法、X射線熒光光譜法、電耦合等離子體光譜法、火花直讀光譜法、碳硫分析以及氮氧分析法。以及分光光度法與滴定法。
- 閱讀(104) 標(biāo)簽:金屬材料檢測|化學(xué)分析
- [檢測百科]淺談壓力容器無損檢測方法2020年02月14日 16:33
- 隨著時代的發(fā)展、科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,對產(chǎn)品的安全狀況和產(chǎn)品質(zhì)量以及使用的性能都提出了越來越高的要求,由于無損檢測技術(shù)自身的優(yōu)越性,在壓力容器產(chǎn)品制造和使用中得到廣泛應(yīng)用。下面我主要介紹用于壓力容器焊縫檢測的4種常規(guī)檢測方法及各自的特點 一、 射線檢測(RT) 目前射線檢測按照美國材料試驗學(xué)會的定義可分為:照相檢測、實時成像檢測、層析檢測和其它射線檢測技術(shù)四類,其中射線照相法是在壓力容器中應(yīng)用最廣泛的一種射線檢測方法。射線照相法是指用X射線或γ射線穿透試件,試件中因缺陷存在影響射線
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