- [檢測百科]分享：使用飛行時間二次離子質譜法判定痕量氧元素的測試方法2024年11月18日 14:04
- 通過一次離子轟擊固體材料表面,使二次離子從試樣表面發(fā)射的方法叫作二次離子質譜（SIMS）法。飛行時間二次離子質譜（ToF-SIMS）法的原理是利用一次離子束濺射固體材料表面,得到二次離子,根據到達檢測器的時間推斷出二次離子的質荷比,從而得到試樣表面的成分信息[1]。ToF-SIMS是一種應用廣泛的固體表面分析技術,具有高質量分辨率和高空間分辨率,其檢測靈敏度很高,可以檢測到痕量級（質量分數約為0.000 1%）的雜質。
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浙公網安備 33042402000106號
